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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7798-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-26351-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Garcia Gervacio / Champac Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-09239-9Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1329-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Khare / Maly From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and ApplicationsErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1377-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1999. Auflage 1999Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-8686-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1996Verlag: Springer USISBN: 978-1-4612-8571-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-3207-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-5693-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark181,89 € (inkl. MwSt.)
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Chandra / Iyengar Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5400-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5391-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8669-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4052-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Champac / Garcia Gervacio Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75465-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark117,69 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and Jitter2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-31419-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2001Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4887-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Garcia Gervacio / Champac Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75464-2Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8291-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
<em>Nachdrucked from JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 10:1-2</em> 1997Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9920-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Ocheretny / Sogomonyan New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-8420-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability1. Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-74747-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-34609-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark106,99 € (inkl. MwSt.)
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Benso / Prinetto Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48711-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Paschalis / Zorian Embedded Processor-Based Self-Test
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2801-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Bennetts / Thijssen Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test ApproachErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-2365-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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