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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1329-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-26351-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Khare / Maly From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and ApplicationsErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1377-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Sousa / Cheung Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47975-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-24993-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability2008Verlag: CopernicusISBN: 978-0-387-74746-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
2001Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7314-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Marienfeld / Ocheretny New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7876-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and JitterSoftcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4066-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Beenker / Thijssen / Bennetts Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-6004-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9673-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47544-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-25624-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
<em>Nachdrucked from JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 10:1-2</em> 1997Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-9920-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5089-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Taylor / Villar Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-0463-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-31069-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Benso / Prinetto Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48711-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Bennetts / Thijssen Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test ApproachErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-2365-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Ocheretny / Sogomonyan New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-8420-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500™1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-34609-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark106,99 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability1. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-74747-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7606-4Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1996Verlag: Springer USISBN: 978-1-4612-8595-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and Jitter2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-31418-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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