Beenker / Bennetts / Thijssen | Testability Concepts for Digital ICs | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 3, 212 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Beenker / Bennetts / Thijssen Testability Concepts for Digital ICs

The Macro Test Approach
Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4615-2365-9
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

The Macro Test Approach

E-Book, Englisch, Band 3, 212 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-1-4615-2365-9
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Autoren/Hrsg.

Beenker, F. P. M.
Bennetts, R. G.
Thijssen, A. P.
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