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Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7235-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8295-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test StandardErscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48731-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-5597-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1998Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7561-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46547-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4926-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark85,59 € (inkl. MwSt.)
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1997. Auflage 1997Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9921-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1997Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-2572-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Stoffel / Kunz Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1997Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5176-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5307-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7205-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6527-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5402-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Radecka / Zilic Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification1. Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48739-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark93,95 € (inkl. MwSt.)
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Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7652-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Vázquez García de la Vega / Rueda Rueda Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
1. Auflage 2007Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-5315-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Huertas Díaz / Vázquez García de la Vega Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7336-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Huertas Díaz / Vázquez García de la Vega Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-5314-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47504-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer¿s Guide to Built-In Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-7626-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Sheppard / Simpson Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-5545-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer¿s Guide to Built-In Self-Test
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7050-1Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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