Sachdev | Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 10, 308 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Sachdev Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits


Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4757-4926-7
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 10, 308 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-1-4757-4926-7
Verlag: Springer US
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Autoren/Hrsg.

Sachdev, Manoj
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