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    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | eBook | Sack Fachmedien
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    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-387-29409-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4899-8773-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-387-29408-7
    Medium: Buch
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    Wunderlich | Models in Hardware Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wunderlich Models in Hardware Testing

    Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    2010
    Verlag: Springer Netherlands
    ISBN: 978-94-007-3093-9
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wunderlich | Models in Hardware Testing | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Wunderlich Models in Hardware Testing

    Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer Netherland
    ISBN: 978-90-481-3282-9
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Wunderlich | Models in Hardware Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wunderlich Models in Hardware Testing

    Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    2010. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-90-481-3281-2
    Medium: Buch
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    Agrawal / Bushnell | Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

    2002
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-8142-7
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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    Agrawal / Bushnell | Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

    2002
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-7923-7991-1
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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    Bushnell / Agrawal | Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

    Erscheinungsjahr 2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-306-47040-0
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    128,39 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    2011. Auflage 2010
    Verlag: Springer Us
    ISBN: 978-1-4419-6992-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | eBook | Sack Fachmedien
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    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    1. Auflage 2010
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-6993-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    2011
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4614-2689-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Adams | High Performance Memory Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7255-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Adams | High Performance Memory Testing | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    Erscheinungsjahr 2005
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-306-47972-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Chakravarty / Thadikaran | Introduction to IDDQ Testing | eBook | Sack Fachmedien
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    Chakravarty / Thadikaran Introduction to IDDQ Testing

    Erscheinungsjahr 2012
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4615-6137-8
    Medium: eBook
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    Thadikaran / Chakravarty | Introduction to IDDQ Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing

    1997
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-7923-9945-2
    Medium: Buch
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    Adams | High Performance Memory Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-8474-9
    Medium: Buch
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    Thadikaran / Chakravarty | Introduction to IDDQ Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4613-7812-9
    Medium: Buch
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    Nicolaidis / Pradhan / Zorian | On-Line Testing for VLSI | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI

    <em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-7923-8132-7
    Medium: Buch
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    Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Hamdioui Testing Static Random Access Memories

    Defects, Fault Models and Test Patterns
    Erscheinungsjahr 2013
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-6706-3
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Nicolaidis / Zorian / Pradhan | On-Line Testing for VLSI | eBook | Sack Fachmedien
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    Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI

    Erscheinungsjahr 2013
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-6069-9
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Nicolaidis / Pradhan / Zorian | On-Line Testing for VLSI | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI

    Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5033-8
    Medium: Buch
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    Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | Buch | Sack Fachmedien

    Hamdioui Testing Static Random Access Memories

    Defects, Fault Models and Test Patterns
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5430-5
    Medium: Buch
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    Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | Buch | Sack Fachmedien

    Hamdioui Testing Static Random Access Memories

    Defects, Fault Models and Test Patterns
    2004
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7752-4
    Medium: Buch
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    Al-Hashimi / Nicolici | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

    A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5315-5
    Medium: Buch
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