Nicolaidis / Zorian / Pradhan | On-Line Testing for VLSI | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 11, 160 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI


Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4757-6069-9
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 11, 160 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-1-4757-6069-9
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Autoren/Hrsg.

Nicolaidis, Michael
Zorian, Yervant
Pradhan, Dhiraj
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