Nicolici / Al-Hashimi | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 22B, 178 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Erscheinungsjahr 2006
ISBN: 978-0-306-48731-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

E-Book, Englisch, Band 22B, 178 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-0-306-48731-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
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Autoren/Hrsg.

Nicolici, Nicola
Al-Hashimi, Bashir M.
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