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Sachdev Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4926-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark85,59 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Sachdev / Pavlov CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-8363-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29749-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-25762-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Sachdev / Vassighi Thermal and Power Management of Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-3832-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Semenov / Sarbishaei / Sachdev ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-8301-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark171,19 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Semenov / Sachdev / Sarbishaei ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7836-0Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46547-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Semenov / Sarbishaei / Sachdev Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8300-6Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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