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Girard / Wen / Nicolici Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8313-8Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Girard / Nicolici / Wen Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
2010. Auflage 2009Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-0927-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5315-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Girard / Nicolici / Wen Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
1. Auflage 2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-0928-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark106,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test StandardErscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48731-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7235-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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