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Beenker / Thijssen / Bennetts Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-6004-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-24993-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5391-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Garcia Gervacio / Champac Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-09239-9Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4513-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7798-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1999. Auflage 1999Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-8686-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Iyengar / Chandra Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
2002. Auflage 2002Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4020-7119-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7589-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8669-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8291-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Garcia Gervacio / Champac Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75464-2Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2001Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4887-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Kastensmidt Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4052-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-3207-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Chandra / Iyengar Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5400-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5089-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7606-4Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
<em>Nachdrucked from JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 10:1-2</em> 1997Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-9920-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and Jitter2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-31418-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5269-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1999Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5115-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Ocheretny / Sogomonyan New Methods of Concurrent Checking
2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8419-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Thijssen / Bennetts Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9658-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
1. Auflage Softcover of orig. Auflage 2005Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-3767-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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