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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Macagnano / Kny / Zampetti | Electrospinning for High Performance Sensors | Buch | Sack Fachmedien

    Macagnano / Kny / Zampetti Electrospinning for High Performance Sensors

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-38178-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85038-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    S. Dresselhaus / Aoki | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    S. Dresselhaus / Aoki Physics of Graphene

    2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-02632-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13653-6
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Ando | High-Speed Atomic Force Microscopy in Biology | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Ando High-Speed Atomic Force Microscopy in Biology

    Directly Watching Dynamics of Biomolecules in Action
    1. Auflage 2022
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-64785-1
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Jacak / Hawrylak / Wojs | Quantum Dots | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Jacak / Hawrylak / Wojs Quantum Dots

    Erscheinungsjahr 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-72002-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Michler / Michler. | Single Semiconductor Quantum Dots | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Michler / Michler. Single Semiconductor Quantum Dots

    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-87446-1
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Wiesendanger / Meyer | Noncontact Atomic Force Microscopy | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Morita / Wiesendanger / Meyer Noncontact Atomic Force Microscopy

    Erscheinungsjahr 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-56019-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Li | Nanomaterials for Sustainable Energy | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Li Nanomaterials for Sustainable Energy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-32023-6
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Fomin | Physics of Quantum Rings | Buch | Sack Fachmedien

    Fomin Physics of Quantum Rings

    2. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-95158-4
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Meyer / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62772-9
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13656-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Zhang / Chen | Nanowelded Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Zhang / Chen Nanowelded Carbon Nanotubes

    From Field-Effect Transistors to Solar Microcells
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26020-9
    Medium: Buch
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-86618-5
    Medium: Buch
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    Jacak / Wojs / Hawrylak | Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Jacak / Wojs / Hawrylak Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-72004-8
    Medium: Buch
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    Marinello / Savio / Passeri | Acoustic Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Marinello / Savio / Passeri Acoustic Scanning Probe Microscopy

    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-27493-0
    Medium: Buch
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    Macagnano / Kny / Zampetti | Electrospinning for High Performance Sensors | Buch | Sack Fachmedien

    Macagnano / Kny / Zampetti Electrospinning for High Performance Sensors

    2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-14405-4
    Medium: Buch
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    Krahne / Manna / Deka | Physical Properties of Nanorods | Buch | Sack Fachmedien

    Krahne / Manna / Deka Physical Properties of Nanorods

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-44817-1
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07212-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37318-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-77898-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20157-8
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05844-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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