Buch, Englisch, 282 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 672 g
Reihe: NanoScience and Technology
Scanning Probe Microscopy Approach
Buch, Englisch, 282 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 672 g
Reihe: NanoScience and Technology
ISBN: 978-3-540-20662-0
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Technische Wissenschaften Verfahrenstechnik | Chemieingenieurwesen | Biotechnologie Metallurgie
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Nanotechnologie
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Oberflächen- und Grenzflächenphysik, Dünne Schichten
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Metallische Werkstoffe
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Mikroskopie, Spektroskopie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
Weitere Infos & Material
1 Electric Scanning Probe Imaging and Modification of Ferroelectric Surfaces.- 2 Challenges in the Analysis of the Local Piezoelectric Response.- 3 Electrical Characterization of Nanoscale Ferroelectric Structures.- 4 Nanoscale Optical Probes of Ferroelectric Materials.- 5 Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Investigation of Ferroelectric Polarization.- 6 Nanoscale Piezoelectric Phenomena in Epitaxial PZT Thin Films.- 7 Scanning Probe Microscopy of Ferroelectric Domains near Phase Transitions.- 8 Nanodomain Engineering in Ferroelectric Crystals Using High Voltage Atomic Force Microscopy.- 9 Nanoinspection of Dielectric and Polarization Properties at Inner and Outer Interfaces in PZT Thin Films.