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Sheppard / Simpson Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7535-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-8363-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pavlov CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5252-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
2005. Auflage 2005Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-25742-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2785-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-6107-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test StandardErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4499-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8184-6Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14502003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Sinha / Barua Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-3828-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-25624-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-25743-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5089-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1996Verlag: Springer USISBN: 978-1-4612-8595-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7589-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Paschalis / Zorian Embedded Processor-Based Self-Test
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2801-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Bennetts / Thijssen Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test ApproachErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-2365-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Taylor / Villar Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-0463-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Ocheretny / Sogomonyan New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-8420-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability1. Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-74747-7Medium: eBookFormat: PDF
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