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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Simpson / Sheppard Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1998Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7535-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Simpson / Sheppard Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8263-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pavlov CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-8363-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500¿2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8184-6Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5252-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-25743-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14502003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
2005. Auflage 2005Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-25742-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Paschalis / Zorian Embedded Processor-Based Self-Test
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2801-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2785-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test StandardErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4499-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Sinha / Barua Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-3828-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-6107-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Iyengar / Chandra Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
2002. Auflage 2002Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4020-7119-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Sousa / Cheung Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47975-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47544-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-24993-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
2001Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7314-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Marienfeld / Ocheretny New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7876-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9673-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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