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Salvo / Hernandez-Silveira Wireless Medical Systems and Algorithms
Design and ApplicationsErscheinungsjahr 2016Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4987-0078-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)114,99 € (inkl. MwSt.)
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Kurinec / Walia Energy Efficient Computing & Electronics
Devices to Systems1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-65600-3Medium: Buch134,10 € (inkl. MwSt.)
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Kurinec / Walia Energy Efficient Computing & Electronics
Devices to SystemsErscheinungsjahr 2019Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-71036-8Medium: Buch239,80 € (inkl. MwSt.)
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Todri-Sanial / Tan Physical Design for 3D Integrated Circuits
1. Auflage 2021Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-77887-3Medium: Buch132,70 € (inkl. MwSt.)
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Todri-Sanial / Tan Physical Design for 3D Integrated Circuits
1. Auflage 2015Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4987-1036-7Medium: Buch144,50 € (inkl. MwSt.)
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Weide-Zaage / Chrzanowska-Jeske Semiconductor Devices in Harsh Conditions
1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-65636-2Medium: Buch104,80 € (inkl. MwSt.)
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Weide-Zaage / Chrzanowska-Jeske Semiconductor Devices in Harsh Conditions
1. Auflage 2016Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4987-4380-8Medium: Buch113,50 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Medical Imaging, Industrial Testing, and Security Applications2. Auflage 2021Verlag: CRC PressISBN: 978-1-032-11087-5Medium: Buch186,60 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski / Iwanczyk Radiation Detection Systems
Sensor Materials, Systems, Technology, and Characterization Measurements2. Auflage 2024Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-70717-0Medium: Buch73,50 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Medical Imaging, Industrial Testing, and Security Applications2. Auflage 2024Verlag: CRC PressISBN: 978-1-032-11091-2Medium: Buch72,90 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski / Iwanczyk Radiation Detection Systems
Sensor Materials, Systems, Technology, and Characterization Measurements2. Auflage 2021Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-70715-6Medium: Buch188,00 € (inkl. MwSt.)
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Yuan Low Power Circuits for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-73214-1Medium: Buch85,10 € (inkl. MwSt.)
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Yuan Low Power Circuits for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2018Verlag: Taylor & Francis LtdISBN: 978-1-138-58001-5Medium: Buch135,50 € (inkl. MwSt.)
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Siu IoT and Low-Power Wireless
Circuits, Architectures, and Techniques1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-65602-7Medium: Buch128,60 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Two Volume Set2. Auflage 2021Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-032-06955-5Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Siu Iot and Low-Power Wireless
Circuits, Architectures, and Techniques1. Auflage 2018Verlag: CRC PressISBN: 978-0-8153-6971-4Medium: Buch226,50 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Two Volume Set2. Auflage 2024Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-032-11342-5Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Walia Low Power Semiconductor Devices and Processes for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2018Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-58798-4Medium: Buch205,10 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski Semiconductor Radiation Detection Systems
1. Auflage 2010Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4398-0385-1Medium: Buch201,50 € (inkl. MwSt.)
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Walia Low Power Semiconductor Devices and Processes for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-73384-1Medium: Buch83,80 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2017Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-07577-1Medium: Buch122,90 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2941-7Medium: Buch209,50 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2942-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)114,99 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski Nano-Semiconductors
Devices and Technology1. Auflage 2017Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-07266-4Medium: Buch159,90 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski Nano-Semiconductors
Devices and Technology1. Auflage 2011Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4398-4835-7Medium: Buch251,50 € (inkl. MwSt.)
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