Buch, Englisch, 404 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1730 g
Buch, Englisch, 404 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1730 g
Reihe: Springer Series in Materials Science
ISBN: 978-3-540-43393-4
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Halbleiter- und Supraleiterphysik
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Naturwissenschaften Chemie Physikalische Chemie Nuklearchemie, Photochemie, Strahlenchemie
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
Weitere Infos & Material
Radiation Environments and Component Selection Strategy.- Basic Radiation Damage Mechanisms in Semiconductor Materials and Devices.- Displacement Damage in Group IV Semiconductor Materials.- Radiation Damage in GaAs.- Space Radiation Aspects of Silicon Bipolar Technologies.- Radiation Damage in Silicon MOS Devices.- GaAs Based Field Effect Transistors for Radiation-Hard Applications.- Opto-Electronic Components for Space.- Advanced Semiconductor Materials and Devices - Outlook.