Claeys / Simoen | Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 57, 404 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Materials Science

Claeys / Simoen Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices


2002
ISBN: 978-3-662-04974-7
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 57, 404 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Materials Science

ISBN: 978-3-662-04974-7
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark



This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining the shortcomings of present experimental and modelling techniques and giving an outlook on future developments. It also provides information on the application of sensors in nuclear power plants.

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Zielgruppe


Research


Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


Radiation Environments and Component Selection Strategy.- Basic Radiation Damage Mechanisms in Semiconductor Materials and Devices.- Displacement Damage in Group IV Semiconductor Materials.- Radiation Damage in GaAs.- Space Radiation Aspects of Silicon Bipolar Technologies.- Radiation Damage in Silicon MOS Devices.- GaAs Based Field Effect Transistors for Radiation-Hard Applications.- Opto-Electronic Components for Space.- Advanced Semiconductor Materials and Devices - Outlook.



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