Gaur / Zwolinski / Singh | VLSI Design and Test | Buch | 978-3-642-42023-8 | sack.de

Buch, Englisch, Band 382, 388 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 6088 g

Reihe: Communications in Computer and Information Science

Gaur / Zwolinski / Singh

VLSI Design and Test


17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

Buch, Englisch, Band 382, 388 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 6088 g

Reihe: Communications in Computer and Information Science

ISBN: 978-3-642-42023-8
Verlag: Springer

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Gaur, Manoj Singh
Zwolinski, Mark
Singh, Adit
Laxmi, Vijay
Boolchandani, D.
Sing, Virendra

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

VLSI design.- Testing and verification.- Embedded systems.- Emerging technology.

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