Gaur / Zwolinski / Laxmi | VLSI Design and Test | E-Book | sack.de
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E-Book, Englisch, Band 382, 388 Seiten, eBook

Reihe: Communications in Computer and Information Science

Gaur / Zwolinski / Laxmi VLSI Design and Test


17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

E-Book, Englisch, Band 382, 388 Seiten, eBook

Reihe: Communications in Computer and Information Science

ISBN: 978-3-642-42024-5
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Gaur, Manoj Singh
Zwolinski, Mark
Laxmi, Vijay
Boolchandani, D.
Sing, Virendra
Singh, Adit

Weitere Infos & Material

VLSI design.- Testing and verification.- Embedded systems.- Emerging technology.

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