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Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7205-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7652-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5402-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Huertas Díaz / Vázquez García de la Vega Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7336-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Vázquez García de la Vega / Rueda Rueda Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-5314-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-7626-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7050-1Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Simpson / Sheppard Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8263-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sheppard / Simpson Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7535-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pavlov CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5252-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
2005. Auflage 2005Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-25742-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8184-6Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14502003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2785-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Sinha / Barua Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-3828-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
2001Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7314-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and JitterSoftcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4066-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability2008Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-74746-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Marienfeld / Ocheretny New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7876-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9673-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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