Ergebnisse filtern
Fachgebiet
Medium
  • 169
Erscheinungsjahr
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 1
  • 3
  • 6
  • 13
  • 4
  • 18
  • 5
  • 11
  • 3
  • 17
  • 3
  • 34
  • 5
  • 8
  • 4
  • 12
  • 2
  • 4
  • 1
  • 5
  • 1
  • 1
  • 1
Autoren
  • 2
  • 2
  • 2
  • 35
  • 5
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 4
  • 4
  • 2
  • 3
  • 2
  • 2
  • 25
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 1
  • 2
  • 1
  • 1
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 6
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 6
  • 2
  • 1
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 1
  • 3
  • 1
  • 2
  • 3
  • 2
  • 1
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 4
  • 3
  • 1
  • 2
  • 4
  • 6
  • 2
  • 4
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 9
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
Verlag
  • 87
  • 35
  • 2
  • 40
  • 4
  • 1
Preis
  • 1
  • 168
Sprachen
  • 169
Verfügbarkeit
  • 169
Katalog
  • 169
  • 4
169  Treffer  für „NanoScience and Technology“
    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1998
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-63815-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07991-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-59408-8
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15614-5
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Lorke / Winterer / Schmechel | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Winterer / Schmechel Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-28545-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09340-1
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26912-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07211-6
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09869-7
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-20662-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-15587-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Lorke / Schulz / Winterer | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Schulz / Winterer Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-42729-9
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Morita / Meyer / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62772-9
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13656-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Zhang / Chen | Nanowelded Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Zhang / Chen Nanowelded Carbon Nanotubes

    From Field-Effect Transistors to Solar Microcells
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26020-9
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-86618-5
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Marinello / Savio / Passeri | Acoustic Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Marinello / Savio / Passeri Acoustic Scanning Probe Microscopy

    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-27493-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Krahne / Manna / Deka | Physical Properties of Nanorods | Buch | Sack Fachmedien

    Krahne / Manna / Deka Physical Properties of Nanorods

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-44817-1
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07212-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37318-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-77898-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20157-8
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05844-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular