Ergebnisse filtern
-
- 2
- 1
-
- 1
- 2
-
- 3
- 3
-
- 2
- 1
-
- 1
- 2
-
- 3
-
- 3
-
- 3
Nanotechnologie
-
Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2017Verlag: Taylor & Francis LtdISBN: 978-1-138-07577-1Medium: Buch80,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2942-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)109,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2941-7Medium: Buch209,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort