Ergebnisse filtern
-
Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI
Scanning Probe Microscopy Techniques1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-09869-7Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-20662-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy
Volume 32015Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-15587-6Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Wiesendanger Scanning Probe Microscopy
Analytical Methods1998Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-63815-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort