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Festigkeitslehre, Belastbarkeit
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Post / Fraunhofer ISE Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.
Erscheinungsjahr 2023Verlag: Fraunhofer VerlagISBN: 978-3-8396-1917-9Medium: Buch84,00 € (inkl. MwSt.)
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