Buch, Englisch, 174 Seiten, Format (B × H): 145 mm x 205 mm, Gewicht: 246 g
Buch, Englisch, 174 Seiten, Format (B × H): 145 mm x 205 mm, Gewicht: 246 g
Reihe: Solar Energy and Systems Research
ISBN: 978-3-8396-1917-9
Verlag: Fraunhofer Verlag
This thesis tries to characterize limiting defect in high standard Gallium doped silicon via lifetime spectroscopy. To assess the validity of the results, the limits of this commonly used method (lifetime spectroscopy) are analyzed by evaluation of simulated lifetime data. Further, a guideline for future lifetime evaluations is given which can improve the outcome of the complex evaluation and helps differentiate between bulk and surface effects.
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Festigkeitslehre, Belastbarkeit
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
- Technische Wissenschaften Energietechnik | Elektrotechnik Solarenergie, Photovoltaik
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Halbleiter- und Supraleiterphysik




