Ergebnisse filtern
-
- 2
-
- 1
- 1
-
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
-
- 1
- 1
-
- 1
- 1
-
- 2
-
- 2
-
- 2
Maschinenbau
-
Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2017Verlag: Taylor & Francis LtdISBN: 978-1-138-07577-1Medium: Buch80,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Li / Lee / Chakrabarty Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips
Design Automation, Optimization, and Test Techniques1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-02963-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort