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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07991-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1998
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-63815-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
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