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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-030-15614-5
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Masuhara / Sasaki / Nakanishi | Single Organic Nanoparticles | Buch | Sack Fachmedien

    Masuhara / Sasaki / Nakanishi Single Organic Nanoparticles

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62429-2
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09673-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XI | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-85037-3
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Hu / Jiang / Chen | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Jiang / Chen Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-031-14042-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    S. Dresselhaus / Aoki | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    S. Dresselhaus / Aoki Physics of Graphene

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35252-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
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    Hlawacek / Gölzhäuser | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hlawacek / Gölzhäuser Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | eBook | Sack Fachmedien
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    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13654-3
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
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    Landman / Heiz | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Landman / Heiz Nanocatalysis

    1. Auflage 2007. 2. printing 2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74551-8
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs / Kawata | Applied Scanning Probe Methods V | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Bhushan / Fuchs / Kawata Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-37316-2
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | eBook | Sack Fachmedien
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-74083-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Alexe / Gruverman | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Alexe / Gruverman Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-08901-9
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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