Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XI | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 236 Seiten, eBook

Reihe: NanoScience and Technology

Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XI

Scanning Probe Microscopy Techniques
1. Auflage 2008
ISBN: 978-3-540-85037-3
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Scanning Probe Microscopy Techniques

E-Book, Englisch, 236 Seiten, eBook

Reihe: NanoScience and Technology

ISBN: 978-3-540-85037-3
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. Real industrial applications are included.

Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XI jetzt bestellen!

Zielgruppe

Professional/practitioner

Autoren/Hrsg.

Bhushan, Bharat
Fuchs, Harald

Weitere Infos & Material

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

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