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2  Treffer  für „Lannoo, M.“
    Lannoo | Point Defects in Semiconductors I | Buch | Sack Fachmedien

    Lannoo Point Defects in Semiconductors I

    Theoretical Aspects
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-81576-8
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Lannoo | Point Defects in Semiconductors I | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Lannoo Point Defects in Semiconductors I

    Theoretical Aspects
    Erscheinungsjahr 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-81574-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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