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Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 1997Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-0-8493-9450-8Medium: Buch169,50 € (inkl. MwSt.)
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Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 2020Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-0-429-61111-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)52,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 2020Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-0-429-60559-8Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)52,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 2019Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-40097-2Medium: Buch61,50 € (inkl. MwSt.)
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Dally / Lall / Suhling Mechanical Design of Electronic Systems
Erscheinungsjahr 2017Verlag: College House Enterprises, LLCISBN: 978-0-9762413-3-1Medium: Buch111,30 € (inkl. MwSt.)
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