Lall / Pecht / Hakim | Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 336 Seiten

Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability

A Physics of Failure Approach
1. Auflage 2020
ISBN: 978-0-429-60559-8
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: EPUB
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

A Physics of Failure Approach

E-Book, Englisch, 336 Seiten

ISBN: 978-0-429-60559-8
Verlag: Taylor & Francis eBooks
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Autoren/Hrsg.

Lall, Pradeep
Pecht, Michael G.
Hakim, Edward B.
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