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Thijs / Groeseneken ESD Protection Challenges
FinFET Technology and RF CMOS CircuitsErscheinungsjahr 2010Verlag: LAP LAMBERT Academic PublishingISBN: 978-3-8383-3642-8Medium: Buch79,00 € (inkl. MwSt.)
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Aoulaiche / Groeseneken / Maes Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics
Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETsErscheinungsjahr 2010Verlag: LAP LAMBERT Academic PublishingISBN: 978-3-8383-6404-9Medium: Buch79,00 € (inkl. MwSt.)
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Franco / Groeseneken / Kaczer Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
2014Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-007-7662-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Franco / Groeseneken / Kaczer Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-024-0205-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Franco / Kaczer / Groeseneken Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
2014Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-94-007-7663-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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