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Aoulaiche / Groeseneken / Maes | Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics | Buch | 978-3-8383-6404-9 | sack.de

Buch, Englisch, 224 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 352 g

Aoulaiche / Groeseneken / Maes

Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics

Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs
Erscheinungsjahr 2010
ISBN: 978-3-8383-6404-9
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing

Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs

Buch, Englisch, 224 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 352 g

ISBN: 978-3-8383-6404-9
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing

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Autoren/Hrsg.

Aoulaiche, Marc
Groeseneken, Guido
Maes, Herman
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