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    Dosch | Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces | Buch | Sack Fachmedien

    Dosch Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces

    Evanescent X-Ray and Neutron Scattering
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1992
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-14975-1
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Dosch | Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Dosch Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces

    Evanescent X-Ray and Neutron Scattering
    Erscheinungsjahr 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-38456-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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