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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35876-5
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Zhang / Chen | Nanowelded Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Zhang / Chen Nanowelded Carbon Nanotubes

    From Field-Effect Transistors to Solar Microcells
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-01498-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Oepen / Hopster | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Oepen / Hopster Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07286-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05602-4
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
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    Güçlü / Hawrylak / Potasz | Graphene Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Güçlü / Hawrylak / Potasz Graphene Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-52188-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85038-0
    Medium: Buch
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    S. Dresselhaus / Aoki | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    S. Dresselhaus / Aoki Physics of Graphene

    2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-02632-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13653-6
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Shchukin / Bimberg / Ledentsov | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08735-6
    Medium: Buch
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07069-3
    Medium: Buch
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    Saurov / Bulyarskiy | Doping of Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Saurov / Bulyarskiy Doping of Carbon Nanotubes

    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-55882-0
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1998
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-63815-5
    Medium: Buch
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07991-7
    Medium: Buch
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-59408-8
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15614-5
    Medium: Buch
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    Lorke / Winterer / Schmechel | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Winterer / Schmechel Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-28545-5
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09340-1
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26912-0
    Medium: Buch
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07211-6
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09869-7
    Medium: Buch
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