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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Gölzhäuser / Hlawacek | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09673-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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