Ergebnisse filtern
-
- 107
-
- 60
- 24
- 22
- 1
-
- 107
-
- 107
-
- 107
-
- 107
- 2
-
Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI
CharacterizationSoftcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07212-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI
Characterization2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-37318-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics
2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-20157-8Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05844-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures
2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-67817-5Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III
Characterization2006Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-26909-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods IV
Industrial ApplicationsSoftcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-06597-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort