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Mikroskopie, Spektroskopie
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Sinclair / Smith / Dahmen High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
Erscheinungsjahr 1990Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-55899-072-2Medium: Buch39,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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