Sinclair / Smith / Dahmen | High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183 | Buch | 978-1-55899-072-2 | sack.de

Buch, Englisch, 420 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 231 mm, Gewicht: 839 g

Reihe: MRS Proceedings

Sinclair / Smith / Dahmen

High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183


Erscheinungsjahr 1990
ISBN: 978-1-55899-072-2
Verlag: Cambridge University Press

Buch, Englisch, 420 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 231 mm, Gewicht: 839 g

Reihe: MRS Proceedings

ISBN: 978-1-55899-072-2
Verlag: Cambridge University Press

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Sinclair / Smith / Dahmen High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183 jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Sinclair, Robert
Smith, David J
Dahmen, Ulrich

Fachgebiete

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.