Liebe Besucherinnen und Besucher,
heute ab 15 Uhr feiern wir unser Sommerfest und sind daher nicht erreichbar. Ab morgen sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Wir bitten um Ihr Verständnis – Ihr Team von Sack Fachmedien
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Mathematik | Informatik
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Li / Nathan CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet
Degradation Behavior and Damage Mechanisms1. Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-22680-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Nathan / Li CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet
Degradation Behavior and Damage Mechanisms1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-06152-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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