Yoshida / Langouche | Defects and Impurities in Silicon Materials | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 487 Seiten

Reihe: Physics and Astronomy

Yoshida / Langouche Defects and Impurities in Silicon Materials

An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering
1. Auflage 2015
ISBN: 978-4-431-55800-2
Verlag: Springer Japan
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering

E-Book, Englisch, 487 Seiten

Reihe: Physics and Astronomy

ISBN: 978-4-431-55800-2
Verlag: Springer Japan
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Autoren/Hrsg.

Yoshida, Yutaka
Langouche, Guido
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