Wang / Stroud / Touba | System-on-Chip Test Architectures | E-Book | sack.de
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E-Book, Englisch, 896 Seiten, Web PDF

Wang / Stroud / Touba System-on-Chip Test Architectures

Nanometer Design for Testability
Erscheinungsjahr 2010
ISBN: 978-0-08-055680-2
Verlag: Elsevier Science & Techn.
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Nanometer Design for Testability

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Autoren/Hrsg.

Wang, Laung-Terng
Stroud, Charles E.
Touba, Nur A.
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