Wang | Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis | Buch | 978-0-521-48266-0 | sack.de

Buch, Englisch, 458 Seiten, Format (B × H): 175 mm x 250 mm, Gewicht: 964 g

Wang

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis


Erscheinungsjahr 2015
ISBN: 978-0-521-48266-0
Verlag: Cambridge University Press

Buch, Englisch, 458 Seiten, Format (B × H): 175 mm x 250 mm, Gewicht: 964 g

ISBN: 978-0-521-48266-0
Verlag: Cambridge University Press

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Autoren/Hrsg.

Wang, Zhong Lin
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