Wade | Noise in Bipolar Junction Transistors at Cryogenic Temperatures. | Buch | 978-0-530-01948-2 | www2.sack.de

Buch, Englisch, 258 Seiten, Format (B × H): 216 mm x 280 mm, Gewicht: 658 g

Wade

Noise in Bipolar Junction Transistors at Cryogenic Temperatures.


Erscheinungsjahr 2019
ISBN: 978-0-530-01948-2
Verlag: Dissertation Discovery Company

Buch, Englisch, 258 Seiten, Format (B × H): 216 mm x 280 mm, Gewicht: 658 g

ISBN: 978-0-530-01948-2
Verlag: Dissertation Discovery Company

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Autoren/Hrsg.

Wade, Thomas
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