Veliadis / Salemi | Defects and Characteristics of SiC | Buch | 978-3-0364-0918-4 | sack.de

Buch, Englisch, 90 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 240 mm, Gewicht: 300 g

Veliadis / Salemi

Defects and Characteristics of SiC


Erscheinungsjahr 2025
ISBN: 978-3-0364-0918-4
Verlag: Trans Tech Publications

Buch, Englisch, 90 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 240 mm, Gewicht: 300 g

ISBN: 978-3-0364-0918-4
Verlag: Trans Tech Publications

By integrating technological features of crystal and epitaxial layer growth, physics of defect occurrence processes and procedures for eliminating their effects, and device engineering, this edition provides a comprehensive overview of the current state of research and existing approaches to mitigating defect-related limitations in SiC-based technologies.

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Autoren/Hrsg.

Veliadis, Victor
Salemi, Arash

Fachgebiete

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