Tolan | X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films | Buch | 978-3-662-14218-9 | sack.de

Buch, Englisch, Band 148, 198 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 330 g

Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

Tolan

X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films

Materials Science and Basic Research
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1999
ISBN: 978-3-662-14218-9
Verlag: Springer

Materials Science and Basic Research

Buch, Englisch, Band 148, 198 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 330 g

Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

ISBN: 978-3-662-14218-9
Verlag: Springer


The properties of soft-matter thin films (e.g. liquid films, polymer coatings, Langmuir-Blodgett multilayers) nowadays play an important role in materials science. They are also very exciting with respect to fundamental questions: In thin films, liquids and polymers may be considered as trapped in a quasi-two-dimensional geometry. This confined geometry is expected to alter the properties and structures of these materials considerably. This volume is dedicated to the scattering of x-rays by soft-matter interfaces. X-ray scattering under grazing angles is the only tool to investigating these materials on atomic and mesoscopic length scales. A review of the field is presented with many examples.

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Zielgruppe


Research


Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


Reflectivity of x-rays from surfaces.- Reflectivity experiments.- Advanced analysis techniques.- Statistical description of interfaces.- Off-specular scattering.- X-ray scattering with coherent radiation.- Closing remarks.



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