Thompson / Lloyd | Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265 | Buch | 978-1-55899-160-6 | sack.de

Buch, Englisch, 346 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 231 mm, Gewicht: 635 g

Reihe: Mrs Proceedings

Thompson / Lloyd

Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265


Erscheinungsjahr 1992
ISBN: 978-1-55899-160-6
Verlag: CAMBRIDGE

Buch, Englisch, 346 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 231 mm, Gewicht: 635 g

Reihe: Mrs Proceedings

ISBN: 978-1-55899-160-6
Verlag: CAMBRIDGE


The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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