Stolojan | Nanometrology Using the Transmission Electron Microscope | Buch | 978-1-64327-802-5 | sack.de

Buch, Englisch, 68 Seiten, Hardback, Format (B × H): 178 mm x 254 mm, Gewicht: 345 g

Reihe: IOP Concise Physics

Stolojan

Nanometrology Using the Transmission Electron Microscope


Erscheinungsjahr 2015
ISBN: 978-1-64327-802-5
Verlag: Morgan & Claypool Publishers LLC-Iop

Buch, Englisch, 68 Seiten, Hardback, Format (B × H): 178 mm x 254 mm, Gewicht: 345 g

Reihe: IOP Concise Physics

ISBN: 978-1-64327-802-5
Verlag: Morgan & Claypool Publishers LLC-Iop


The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. Recent technological breakthroughs have revolutionized our understanding of materials via use of the TEM, and it promises to become a significant tool in understanding biological and biomolecular systems such as viruses and DNA molecules. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.

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Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


- Introduction
- The Transmission Electron Microscope
- Imaging
- Resolution
- Image Calibration
- Sample Orientation
- Modes of Imaging and Diffraction
- Spectroscopy
- Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDX)
- Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS)



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