Buch, Deutsch, 248 Seiten, Paperback, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 394 g
ISBN: 978-3-540-89945-7
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Das Buch gibt eine Einführung in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen, vor allem von Metallen, aber auch von Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die mikroskopischen Methoden werden systematisch und vergleichend erörtert. Da Strukturen im Nanometerbereich in der Materialforschung ganz besondere Beachtung gewonnen haben, stehen die Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie im Mittelpunkt des Buches. Zu ihnen zählen auch die Beugung zur Analyse der Struktur der Phasen sowie die Spektroskopie für die quantitative Bestimmung der Atomarten. Darüber hinaus wurden insbesondere die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie gründlich behandelt.
Das Buch eignet sich für Studierende der Werkstoffwissenschaften ebenso wie für Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet der Mikroskopie von metallischen, keramischen und polymeren Werkstoffen suchen. Jedes Kapitel enthält zahlreiche Abbildungen und weiterführende Literaturhinweise.
Die 3. Auflage wurde gründlich neu bearbeitet und aktualisiert.
Zielgruppe
Graduate
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Naturwissenschaften Physik Mechanik Klassische Mechanik, Newtonsche Mechanik
Weitere Infos & Material
Systematik und Methoden zur Kennzeichnung des Aufbaus der Werkstoffe.- Herstellung von Proben.- Elektronenbeugung.- Durchstrahlung von amorphen Stoffen und perfekten Kristallen.- Abbildung von Stapelfehlern und Korngrenzen.- Abbildung von Versetzungen.- Geordnete metallische und nichtmetallische Kristalle.- Die Analyse von Phasengemischen.- Analyse von kompliziert aufgebauten Gefügen.- Abbildung ferromagnetischer Bezirke (Lorentz-Mikroskopie).- Ausrüstung des Elektronenmikroskopes.- Besondere Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie.
