Singh | An Artificial Intelligence Approach to Test Generation | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 19, 194 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Singh An Artificial Intelligence Approach to Test Generation


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4613-1979-5
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 19, 194 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 978-1-4613-1979-5
Verlag: Springer US
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 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Autoren/Hrsg.

Singh, Narinder
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