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E-Book

E-Book, Englisch

Reihe: IEEE Press

Simske Meta-Algorithmics

Patterns for Robust, Low Cost, High Quality Systems
1. Auflage 2013
ISBN: 978-1-118-62670-2
Verlag: Wiley-Blackwell
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

Patterns for Robust, Low Cost, High Quality Systems

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Autoren/Hrsg.

Simske, Steven J.
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